1. 樣品制備

尺寸要求：樣品需平整均勻，典型厚度為1～5 mm，直徑≥100 mm（依據(jù)電極尺寸調(diào)整）。若樣品過薄，需疊加多層避免擊穿。

清潔處理：使用無水乙醇或異丙醇清潔表面，避免指紋或污染物（如粉塵、油脂）干擾表面電阻。

預處理：在標準環(huán)境（23±1℃、50±5% RH）中調(diào)節(jié)至少24小時，消除溫濕度歷史效應。

2. 設備校準與電極配置

校準流程：

  使用標準電阻箱（如10⁶～10¹⁵Ω范圍）校準儀器，驗證測量誤差≤±5%。

  檢查電極系統(tǒng)（三電極法）：確保保護環(huán)（Guard Electrode）與測量電極間距均勻（通常1～2 mm），避免邊緣電場畸變。

電極類型：

  體積電阻：采用三電極系統(tǒng)（上下主電極+保護環(huán)），屏蔽表面漏電流。

  表面電阻：使用平行條狀電極（間距10±0.5 mm），或環(huán)形電極配置，僅測量沿表面的電流路徑。

3. 測試環(huán)境控制

實驗室條件：維持23±2℃、50±5% RH（依據(jù)IEC 60212），記錄實際溫濕度。

屏蔽措施：在法拉第籠或屏蔽室內(nèi)操作，消除環(huán)境電磁干擾（尤其高阻測試時）。

4. 測試步驟

體積電阻率（ρv）測試

1. 樣品安裝：將樣品置于上下電極間，施加接觸壓力（通常0.5～1 MPa）確保緊密貼合。

2. 電壓施加：選擇直流電壓（如500 V，根據(jù)材料耐壓調(diào)整），極化時間60±5秒（避免介質(zhì)吸收效應）。

3. 電流測量：讀取穩(wěn)態(tài)電流Iv（通常10^-12～10^-6A），計算體積電阻Rv = V/Iv。

4. 計算公式：

A：測量電極有效面積（cm2），t：樣品厚度（cm）。

表面電阻率（ρs）測試

1. 電極配置：使用平行電極或同心圓環(huán)電極，間距d精確測量。

2. 電壓施加：同體積電阻測試，但僅測量表面路徑電流I_s。

3. 計算公式：

L：電極長度（cm），W：電極間距（cm）。

5. 關(guān)鍵注意事項

極化時間控制：材料介電松弛特性可能導致電流衰減，需通過預實驗確定優(yōu)良讀數(shù)時間。

電化效應規(guī)避：高絕緣材料易積累靜電，測試后需短接電極放電10秒以上。

重復性驗證：每個樣品至少測試3次，取幾何平均值，離散度＞20%需排查原因（如局部缺陷）。

安全規(guī)范：高壓測試時確保接地可靠，操作者佩戴絕緣手套，設備配備緊急斷電裝置。

6. 誤差分析與修正

邊緣效應：保護環(huán)未全包圍測量電極時，需引入邊緣修正因子。

溫升影響：長時間測試可能導致樣品溫升，需監(jiān)控溫度（紅外熱像儀輔助）。

濕度敏感材料：使用干燥氮氣環(huán)境或在手套箱中測試，避免吸濕導致電阻漂移。

7. 數(shù)據(jù)記錄與報告

必填信息：樣品編號、厚度、預處理條件、測試電壓、溫濕度、儀器型號。

結(jié)果呈現(xiàn)：體積電阻率（Ω·cm）、表面電阻率（Ω）、測試標準、不確定度分析（如校準誤差±3%）。

通過上述嚴謹流程，可確保絕緣材料電阻性能測試的準確性和重復性，滿足工程選材或產(chǎn)品認證需求。對于納米復合材料或高介電常數(shù)材料，需進一步考慮頻率依賴性（需阻抗分析儀擴展測試）。